想深入了解我们可以为您的农业与食品科学研究提供的分析吗? 无论您是学生、研究人员还是教授,我们均可随时帮助您了解与应用例子高度相关的信息。
农业与食品科学包括众多科学学科——从分子和蛋白质研究一直到卫星图像研究和评估大片森林的面积,不一而足。 我们的应用说明和发表的论文可让您了解我们的仪器在多种不同应用(包括实验室应用和现场应用)中的使用情况。 所以,欢迎您一探究竟,了解它们对您进行农业研究或调查有何助益! 有关方法缩写的解释,请参见此页面的底部。
都看过了吗? 您还可能会在
生物与医药科学
和
制药科学
分类下找到一些有用的文章。
我們的產品與技術在
產品頁面
提供相關說明。您可在下方找到我們儀器量測屬性的快速參考連結,以及量測名稱及其縮寫。進入以下連結來深入瞭解!
|
英文縮寫
|
方法名稱
|
儀器
|
測量的特性
|
|
DLS (DLS)
|
動態光散射技術 (DLS)
|
Zetasizer
|
分子大小、流體力學半徑 R
H
、粒子大小、大小分佈、穩定性、濃度、凝聚度
|
|
ELS
|
電泳光散射技術
|
Zetasizer
|
Zeta 界面電位、粒子電荷、懸浮穩定性、蛋白質活動力
|
|
ITC
|
等溫滴定熱分析法
|
MicroCal ITC
|
結合親和力、溶液分子反應熱力學
|
|
DSC
|
差示掃描量熱法
|
Microcal DSC
|
大分子變性 (重新摺疊)、大分子穩定性
|
|
GCI
|
光柵耦合干涉法 (GCI)
|
Creoptix WAVEsystem
|
使用無標記法進行即時結合動力學與結合親和力分析
|
|
IMG
|
自動影像分析
|
Morphologi 4
|
粒子成像、自動形狀與大小量測
|
|
MDRS
|
形貌導向拉曼光譜技術
|
Morphologi 4-ID
|
粒子成像、自動形狀與大小量測、化學識別與污染物偵測
|
|
LD
|
雷射繞射
|
Mastersizer
Spraytec
Insitec
Parsum
|
適用分析的材料
|
|
NTA:
|
奈米粒子追蹤分析
|
NanoSight
|
粒子大小、大小分佈及濃度
|
|
SEC
或
GPC
|
尺寸篩選層析法 (SEC)
凝膠滲透層析法
|
OMNISEC
|
分子大小、分子量、減數狀態、聚合物或蛋白質大小及分子結構
|
|
SPE
|
經由熔融法進行樣本製備
|
Le Neo
LeDoser
Eagon 2
The OxAdvanced
M4
rFusion
|
適合 XRF 熔融樣本製備、適合 ICP 過氧化物溶液製備、適合熔融樣品通率加權
|
|
UV/Vis/NIR/ SWIR
|
紫外光 / 可見光 / 近紅外線 / 短波紅外線光譜儀
|
LabSpec
FieldSpec
TerraSpec
QualitySpec
|
材料識別與分析、濕度、礦物質、碳含量。空中及衛星光譜技術的地面實況。
|
|
PFTNA
|
脈衝快速熱中子活化
|
CNA
|
即時元素分析
|
|
XRD-C
|
X 光繞射
(晶體學)
|
Aeris
Empyrean
|
分子結晶結構精算、
結晶相識別與定量、結晶與非結晶比例、結晶體尺寸分析
|
|
XRD-M
|
X 光繞射
(微結構)
|
Empyrean
X’Pert
3
MRD(XL)
|
殘餘應力、織構 (Texture)
|
|
XRD-CT
|
由斷層掃描所產生的
X 光吸收成像
|
Empyrean
|
固體、孔隙和密度 3D 成像
|
|
SAXS
|
小角度 X 光散射 SAXS
|
Empyrean
|
奈米顆粒、尺寸、形狀與結構
|
|
GISAXS
|
低掠角小角度 X 光散射
|
Empyrean
|
奈米結構薄膜與表面
|
|
HR-XRD
|
高解析度 X 光繞射
|
Empyrean
X’Pert
3
MRD(XL)
|
薄膜與多磊晶層、組成、應力、厚度、品質
|
|
XRR
|
X 光反射法
|
Empyrean
X’Pert
3
MRD(XL)
|
薄膜與表面、薄膜厚度、表面與介面平整度
|
|
XRF
|
X 光螢光光譜儀 (XRF)
|
Epsilon
Zetium
Axios FAST
2830 ZT
|
元素成分、元素濃度、微量元素、污染物偵測
|