一、
概述
高低温介电温谱仪
，
HCWP-S系列高低温材料介电参数测量系统是我司开发全系列宽频、宽温区材料介电参数测量仪（介电温谱仪）
公司开发的高低温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台，高温测试夹具与WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR测量设备无缝连接，实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外，还可以硌脚用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。
二、主要用途
高低温介电温谱仪
用于分析宽频、高低温条件下被测样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线。可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。
三、系统参数
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温度范围
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-160℃-450℃
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控温精度
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±
1℃
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控温方式
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连续升温和分段升温
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测量精度
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0.1℃
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升温斜率
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0-10℃min（典型值3℃min）
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控温方式
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PID精确控温
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显示控制
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彩色触摸屏
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数据接口
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USB接口
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冷却方式
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水冷
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降温斜率
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0-1℃/mim（典型值3℃/min）
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四、测量参数
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频率范围
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20Hz-30MHz
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测量精度
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0.05%
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测量原理
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平行板电容器原理
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测温精度
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±
1℃
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供电
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220V
±
10%,50Hz
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工作环境
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0℃-55℃
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样品尺寸
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φ
≤15min，d=3mm
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测量方式
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2线-4线测量
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电极材料
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铂金
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仪器尺寸
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650×500×550
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五、产品特点
1）
高温介电温谱仪
-高温介电测量系统
2）
测量精度高，控温，测量频率宽，抗交流干扰；
3）
介电软件功能，拥有测量系统；
4）
直接得出介电常数实部和虚部的比值曲线；
5）
直接得出复阻抗实部和虚部比值曲线的Cole-Cole图；
6）
直接得出机械品质因数Qm；
7）
集方案、测量、分析、数字化显示于一体集成化设计；
8）
触摸屏操作，美观设计，外观与智能共存；
9）
设计电极系统，重复性好，稳定性高；
10）
高温、宽频下测量材料的介电性能；
11）
一次只能测量一个样品，测量度高；
12）
高温介电测量系统与安捷伦、稳科阻抗产品兼容；
13）
多种温度选型，软件升级。
六、软件功能
HC5000系列测试系统的软件平台hacepro,采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求。具备稳定性与安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复，兼容XP、win7、win10系统。
友善的使用界面：
七、硬件支持
集成[email protected]双核处理器
集成打印接口，可扩充8个USB即可
可支持16G内存，60G固态硬盘，让系统运行流畅
八、
系统配置要求
1）电磁铁：磁场间距可变；能提供工作稳定性。
2）电磁铁电源：具有直流与交流电流模式；要采用真正的双极四相限电源，提供平滑
的零磁场转换功能和断水断电保护功能；要求为水冷模式，减少测试噪音，冷却效果充
分，确保电子器件的有效散热，设备稳定性好，寿命长。
3）高的精度测试仪表，配套的机柜、安装支架和电缆。
4）安装系统软件的计算机一套
