蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，可轻松实现成像和分析程序，提高工作效率。 您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或用于生物和地质样品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低电压，在1 kV或更低电压下获得更佳的分辨率和衬度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。​

• 从设置到获取基于人工智能的结果，均提供专业向导，为您保驾护航，助您探索直观的成像工作流。
  
• 可在1 kV和更低电压下分辨差异，实现更高的分辨率和优化的衬度。
  
• 可在极端条件下执行可变压力成像，获得出色的非导体成像结果。

_{图片说明：聚苯乙烯，使用NanoVP lite模式成像。}

• Sigma 560的先进EDS几何学设计可提高分析效率。两个180°径向相对的EDS端口确保了即使在低电压小束流条件下，也能实现高通量无阴影元素分布成像。
  
• 样品仓的附加EBSD和WDS端口不局限于满足EDS分析。
  
• 不导电样品也可以使用全新的NanoVP lite模式进行分析，并能获得更强的信号和更高的衬度。
  
• 全新的aBSD4探测器可轻松实现表面形貌复杂样品的图像采集。